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Scuola Avanzata di Microscopia a Scansione di Sonda


28 Novembre - 2 Dicembre 2011 - Schools


La Società Italiana Scienze Microscopiche (SISM)
in collaborazione con l'Istituto per lo Studio dei Materiali
Nanostrutturati (ISMN) e l'Istituto per la Sintesi Organica e la
Fotoreattività (ISOF) del CNR (Area della Ricerca di Bologna) organizza
una scuola avanzata teorico-pratica di Microscopia a Scansione di Sonda
(Scanning Probe Microscopy - SPM).
L'obiettivo didattico è quello di fornire ai partecipanti gli strumenti
teorici e sperimentali per la comprensione delle tecniche SPM avanzate.




La scuola si rivolge a coloro che hanno conoscenza diretta e/o pratica
della microscopie di base (Microscopia a Forza Atomica-AFM e Microscopia
ad effetto Tunnel-STM) e sono interessati ad espandere le loro
conoscenze di microscopia e le potenzialità del proprio strumento.
È richiesta una preparazione scientifica di base. I primi due giorni
(Lunedì 28/11 e Martedì 29/11 - Modulo Teorico) saranno dedicati alla
teoria delle tecniche avanzate SPM ed all'interpretazione qualitativa e
quantitativa dei contrasti (meccanici, elettrici, magnetici...).
Nella mattinata del mercoledì (30/11) si svolgerà una sessione plenaria
aperta; tre relatori esporranno i loro lavori con approccio didattico. A
partire dal mercoledì pomeriggio (da Mercoledì-30/11 a Venerdì-02/12 -
Modulo Sperimentale) si svolgeranno le attività sperimentali nelle quali
i partecipanti utilizzeranno, a rotazione, tutte le tecniche A-SPM.
A richiesta è possibile inviare agli organizzatori campioni da
analizzare durante le attività sperimentali (spedire per posta ordinaria
o corriere all'attenzione di: Cristiano Albonetti, Via Gobetti 101,
40129, Bologna).
È possibile iscriversi al solo modulo teorico. Le lezioni e i laboratori
saranno in Inglese in presenza di studenti e giovani ricercatori
stranieri. La scadenza per le domande di partecipazione alla scuola è
fissata al 15/11/2011. La parte sperimentale prevede l'osservazione di
campioni organici, inorganici, biologici e nanostrutturati. Durante i
giorni dedicati al modulo teorico, le principali ditte leader nel
settore della microscopia a sonda in scansione presenteranno le ultime
novità strumentali del settore.
Alla conclusione della scuola, i partecipanti avranno gli strumenti
teorico-sperimentali per comprendere ed utilizzare le tecniche SPM più
avanzate.
Registrazione on-line




Documenti allegati:

Scarica la scheda di partecipazione e programma (229 Kb)

Scarica la locandina (445 Kb)


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